首页
产品中心
品牌中心
测试服务
二手市场
新闻资讯
关于我们
联系我们
资料下载
+86-591-83855102
椭偏仪MARY-102 薄膜厚度、光学常数以及材料微结构光学测量仪
椭偏仪是一种光学仪器，它测量 光束从样品表面反射时的偏振态变化，以分析 薄膜厚度、折射率/吸收等 光学常数或散装材料的光学常数。 MARY-102 是基于集成技术开发的， 其座右铭是：紧凑的尺寸、更低的价格、更高的精度和用户友好的软件。
您好，请点击在线客服进行在线沟通！
翁工
