翁工
Trioptics WaveSensor® 全欧光学
WaveSensor®波前传感器
产品介绍：
WaveSensor®系列产品是应用哈特曼—夏克传感器的测量原理研制而成的，并配备专门的操作与分析软件，可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段，因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。
应用范围：
• 常规光学元件面形检测（平面、球面、透镜等）
• 大口径光学元件检测
• 光学系统像差检测
• 激光器输出波面检测
• 光束质量诊断
• 光束动态变化测
• 自适应系统的波前探测
产品型号及技术参数：
产品型号 | WaveSensor®150 | WaveSensor®100 | WaveSensor®80 | WaveSensor®60 |
孔径尺寸 | 15mm×15mm | 15mm×15mm | 6.6mmx8.8 mm | 4.8mmx6.4 mm |
阵列透镜数 | 138×138 | 100×100 | 60 x 80 | 45 x 60 |
动态范围 | 2000 λ | > 1500 λ | > 1000 λ | > 800 λ |
倾斜测量灵敏度 | < 1μrad | < 1μrad | < 1μrad | < 1μrad |
绝对精度(RMS) | < λ/20 | < λ/20 | < λ/20 | < λ/20 |
重复性(RMS) | < λ/200 | < λ/200 | < λ/200 | < λ/200 |
波长 | 405-1100nm（可扩展至350nm） | |||
接口类型 | IEEE1394B | |||
产品尺寸 | 74 mm×100 mm×144 mm | |||
产品重量 | 1000 g | 1000 g | 800 g | 800 g |
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