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5LAB
5LAB是一家来自日本横滨设计、制造和销售光学产品的制造商。最初一直以光通信相关设备零件为中心发展我们的业务。自 1998 年以来,5LAB进入了椭偏仪和相位差测量装置等测量仪器领域。此后,又陆续开发了自准直仪、PEA(空间相干断层扫描)OCT(光学相干断层扫描)和壁厚测量仪等新产品。
椭偏仪MARY-102 薄膜厚度、光学常数以及材料微结构光学测量仪
椭偏仪是一种光学仪器,它测量 光束从样品表面反射时的偏振态变化,以分析 薄膜厚度、折射率/吸收等 光学常数或散装材料的光学常数。 MARY-102 是基于集成技术开发的, 其座右铭是:紧凑的尺寸、更低的价格、更高的精度和用户友好的软件。
测厚仪 非接触式镜片厚度测量装置
可进行凹凸透镜、弯月面测量 香脂镜片 非接触式测量 高速测量 带对中调整机构
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