波前传感器 WaveSensor® 全欧光学
可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段
擅长为客户的所有需求提供最前沿的技术WaveSensor® 波前传感器 系列产品是应用夏克—哈特曼传感器的测量原理研制而成的，并配备专门的操作与分析软件，可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜表面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段，因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。
产品特点
*常规光学元件面形检测（平面、球面、透镜等）
*大口径光学元件检测
*光学系统像差检测
*激光器输出波面检测
*光束质量诊断
*光束动态变化测
*自适应系统的波前探测
产品型号及技术指标
| 产品型号 | WaveSensor® 150 |
| 孔径尺寸 | 15mm×15mm |
| 阵列透镜数 | 138×138 |
| 动态范围 | 2000λ |
| 倾斜测量灵敏度 | < 1μrad |
| 绝对精度(RMS) | < λ/20 |
| 重复性(RMS) | < λ/200 |
| 波长 | 405...1100nm(可扩展至350nm) |
| 接口类型 | IEEE1394B |
| 产品尺寸 | 74mm×100mm×144mm |
| 产品重量 | 1000g |
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