有效焦距和法兰距快速测量仪 Trioptics OptiSpheric® AutoFocus 500 INV
OptiSpheric系统提供有效焦距、法兰焦距,轴上MTF和透镜半径的非接触式测量。具体升级可确定平面中心误差和角度。
高精度干涉仪 Trioptics μPhase®
用于测量高精度要求的光学零件,材料包括玻璃、塑料、金属、陶瓷等,非接触式测量可保证在不伤害光学表面的前提下对光学表面及波前进行最精确的评价
高精度非接触式光学测厚仪 LensThick非接触式光学测厚仪
LensThick非接触式光学测厚仪利用光的独特性质测量厚度,其测量原理为:测量激光照射到被测试材料上,经过每个表面反射后被收集,然后在光学干涉仪上进行分析,光学干涉仪是一种高精度的“光学尺”,它测量每个反射信号的长度差,以确定每一层的厚度和总厚度。
微型高光谱成像光谱仪 Micro-Hyperspec®
无人机载激光雷达扫描系统 LiDAR Drone
LiDAR Drone无人机载激光雷达扫描系统---实时、动态、大量采集空间点云信息,通过相应软件获得重建的空间结构的DOM和 地形信息。
机载高光谱成像传感器吊舱HySIP
机载高光谱成像传感器吊舱是一套应国内客户需求而开发的全套系统。 集成了美国HeadWall全反射式成像光谱仪和全中文的控制测量软件、GPS辅助惯导装置以及可充电锂电池。可以通过无人机上的高精稳定平台以及测量控制软件触发吊舱控制,并且很容易地把此吊舱集成到固定翼或者螺旋翼无人机上,构成全套的机载高光谱成像系统,满足与高光谱遥感相关的各行业的应用需求。
高分辨率荧光成像光谱仪 High-Resolution Hyperspec® Fluorescence
全波段机载高光谱成像光谱仪 Co-aligned VNIR/SWIR
Hyperspec Co-Aligned VNIR/SWIR全波段机载高光谱成像仪的光谱范围为400-2500nm,即一台设备直接覆盖可见光 到短波红外的光谱范围。Hyperspec Co-Aligned VNIR/SWIR集成有VNIR和SWIR两套高光谱成像仪,其中,VNIR (400-1000nm)的感光元件为 低功耗的CMOS传感器,其分辨率为640*480,像元尺寸为7.4μm*7.4μm,SWIR(900-2500nm)的感光元件为制冷型MCT传 感器,其分辨率为640*480,像元尺寸为15μm*15μm,而分光光路均基于Headwall公司专利技术——同轴反射凸面全息光栅分光技术,不仅保证了极低杂散光和成像畸变,同时也具有极高的热稳定性和信噪比
全自动非球面中心偏差测量仪 AspheroCheck UP
它通过全自动的测量过程而脱颖而出。已被证明的中心偏差测量仪技术集成到一个高精度向心测试中。在轴外倾斜测量值、非球面样品的自动定位以及非接触式传感器为快速精确的测量结果提供了关键因素
人工晶状体波前测量仪 Trioptics WaveMaster® IOL
紧凑型波前测量仪 Trioptics WaveMaster® Compact
波前测量仪 Trioptics WaveMaster® 球面或非球面镜片光学波前面和镜片或镜头的表面面形的检测.合了目前最先进的波前传感技术,并配备有光源、样品承载台、准直系统或望远扩(缩)束系统及波前传感器,可轻松的构建有限轭或无限轭测量模式。
波前传感器 WaveSensor®
可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段
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